| 字段 | 字段内容 |
|---|---|
| 001 | 0100003678 |
| 005 | 20000116072453.0 |
| 010 | $a: 7-03-001164-3$d: ￥16.40 |
| 100 | $a: 20000116d1989 em y0chiy0121 ea |
| 101 | $a: chi |
| 102 | $a: CN$b: 110000 |
| 105 | $a: y z 000yy |
| 106 | $a: r |
| 200 | $a: 半导体器件及电路的可靠性与退化$f: (英)豪斯,摩根主编$g: 李锦林等译 |
| 210 | $a: 北京$c: 科学出版社$d: 1989.10 |
| 215 | $a: 463页$d: 19cm |
| 690 | $a: TN303 |
| 701 | $a: 摩根$4: 主编 |
| 702 | $a: 李锦林$4: 译 |
| 801 | $a: CN$b: FZU$c: 20000116 |
| 905 | $a: 200135$b: 9013144,9013143,9013142$d: TN303$e: 26 |
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